认识检查
检查概述
X线头影测量技术通过测量X线头颅定位照像所得到的影像,对牙颌、颅面各标志点进行定点,描绘出一定的线角进行测量分析,从而了解牙颌、颅面软硬组织的结构特点,使对牙颌、颅面的检查、诊断由表面形态深入到内部骨骼结构中。
检查目的
X线头影测量可了解并判断个体面部软硬组织的发育特点,在口腔正畸和正颌手术设计中得到广泛使用,逐渐成为正畸诊断与治疗的重要辅助技术,还能帮助预测治疗效果,对于临床医生做出正确的诊断及治疗计划有重要参考意义。
检查风险
X线检查具有一定的辐射性,但单次检查辐射剂量远远低于人体有害阈值,应注意避免连续多次进行检查。
检查科室
口腔科、口腔颌面外科
检查费用
50~200元
检查前
检查准备
1.与医师详细沟通,了解患者病史,明确是否需要行该检查。
2.患者向医生了解具体检查方法及配合方法。
3.去除头颈部可能产生伪影的金属饰物,去除口腔内活动假牙。
是否空腹
否
检查适应症
1.先天牙颌面畸形患者。
2.需要口腔正畸或正颌手术治疗者。
3.外伤后需颌面修复者。
检查禁忌
1.有意识不清等特殊情况,无法配合检查者。
2.备孕期、妊娠期女性。
检查中
检查过程
1.患者进入检查室后站立于接收板前,以脸部侧面正对X线仪,保持静止不动,如需要拍摄其他位置片,患者需按照医生要求改变头部姿势。
2.医生操控仪器开启X线,对患者头部进行拍片。
3.医生采用手绘或电脑数字绘图法描绘患者头影图,并选取确定标志点,对相关线角进行测量。
注意事项
1.患者需配合医生调整姿势,避免拍片效果差影响测量结果。
2.如患者为青少年,需以铅衣遮挡生殖器等重点部位。
检查后
报告产出时间
一般24小时内可出报告。
注意事项
X线平片为二维显像,可能造成头部结构重叠,影响测量精确性,必要时患者可结合CT检查。
检查报告解读
检查所见
通过观察及测量、计算患者X线头影结果得出诊断。
常见诊断
X线头影结果正常、X线头影结果异常。
表示正常的结果
正常人的各指标范围如下:1.矢向:SNA为82.8±4°,SNB为80.1±3.9°,ANB为SNA与SNB之差,代表上颌骨与下颌骨的前后向相对位置关系,正常人为2.7±2°;2.垂直向:MP-FH=27.2±4.7°,FHI=0.65~0.75;3.牙性参数:U1-NA=22.8±5.7°,L1-NB=30.4±5.8°,U1-L1=124.2±8.2°;4.软组织分析重要角度:面型角FAC,正常咬合牙颌7.3±4.4°。
表示异常的结果
X线头影异常
异常结果的可能疾病:
颅部发育异常
、颌面部畸形
异常结果分析:
SNA角度增大表明上颌前突,减小表明上颌后缩;ANB越大,骨性成分越明显,骨性不协调越重。
参考资料
[1]叶之慧,杨东红,张雪松,等.佳木斯地区正常(牙合)青少年X线头影测量研究[J].黑龙江医药科学,2014,37(6):55-56.
[2]谢伟,徐卫华,黎治红.X线头影测量的历史与前景[J].影像研究与医学应用,2018,2(10):7-8.